- المجال: Semiconductors
- Number of terms: 7260
- Number of blossaries: 0
- Company Profile:
Texas Instruments (TI) designs and manufactures analog and digital semiconductor IC products for the world market. In addition to analog technologies, digital signal processing (DSP) and microcontroller (MCU) semiconductors, TI designs and manufactures semiconductor solutions for analog and digital ...
Serien av linjer som utgjør et TV-bilde eller datamaskinens skjerm. A raster linjen er det samme som en skanner-line, som er en individuell feie over ansiktet av visningen av elektronstråle som gjør bildet.
Industry:Semiconductors
Um sinal de saída de um contador que indica que o contador atingiu seu valor máximo.
Industry:Semiconductors
Da bi naprava pin digitalne logike neaktivni. Če pin je aktivno nizko, potem visoke napetosti na pin deasserts to. Če pin je aktivno visoko, nato nizko napetost deasserts to.
Industry:Semiconductors
Joint Test Action Group. Le groupe d'Action mixte d'essai a été créé en 1985 afin de développer des méthodologies de test économique pour les systèmes conçus autour de circuits intégrés complexes et assemblés avec des technologies de montage en surface. Le groupe a élaboré une norme qui a été par la suite adoptée par IEEE norme IEEE 1149.1-1990, « IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture ». Voir aussi boundary scan ; tester le port d'accès (TAP).
Industry:Semiconductors
Un port standard défini par l'IEEE norme 1149.1 – 1990 inclus dans le dispositif à mettre en œuvre des fonctions de numérisation limite et/ou pour assurer la communication entre le DSP et l'émulateur.
Industry:Semiconductors
Les octets dans un mot multioctet qui a le plus d'influence sur la valeur du mot.
Industry:Semiconductors
Espai de memòria que només es poden llegir des o escrit en un cicle de rellotge de sol; RAM que pot accedir (llegir ni escriure) una vegada en un únic cicle de CPU.
Industry:Semiconductors
Kopīga testu darbību grupu. Apvienotās Test Action Group tika izveidots 1985. gadā, lai attīstītu ekonomiska testa metodiku sistēmu paredzēts ap kompleksa integrālajām shēmām un montēta virsmas uzstādāmas tehnoloģijas. Grupas izstrādāts standarts, ko vēlāk pieņēma IEEE kā IEEE standartu 1149.1-1990, "IEEE standarta testu piekļuves portu un robežu skenēšanas arhitektūra". Sk. arī robežu skenēšana; testu piekļuves porta (TAP).
Industry:Semiconductors
Kelompok aksi bersama tes. Kelompok aksi bersama menguji dibentuk pada tahun 1985 untuk mengembangkan metodologi uji ekonomis untuk sistem dirancang di sekitar kompleks sirkuit terpadu dan dirakit dengan teknologi permukaan-mount. Kelompok disusun standar yang kemudian diadopsi oleh IEEE sebagai standar IEEE 1149.1-1990, "IEEE standar uji akses Port dan batas-Scan arsitektur". Lihat juga batas memindai; Uji akses port (tekan).
Industry:Semiconductors
Et kabel, der bruges til at tilslutte en ekstern enhed til software udvikling bord (SDB). Perifere kabler til SDB omfatter video graphics array (VGA) pass-through-kabel, grafik output skærmkabel, S-VHS-til-RCA-adapterkabel og audio breakout kabel.
Industry:Semiconductors
