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National Semiconductor Corporation
المجال: Semiconductors
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Company Profile:
National Semiconductor Corporation designs, develops, manufactures, and markets analog and mixed-signal integrated circuits and sub-systems.
Un metodo di produzione di film sottili liberando molecole da una solida fonte attraverso bombardamento ionico al fine di depositare li su una superficie vicina.
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Unità di lunghezza. 104Å = 1 micron o 1010Å = 1 m (metro).
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Il materiale fisico su cui un circuito integrato è fabbricato o assemblato. Per un dispositivo monolitico, questo sarebbe il silicio del chip; per un ibrido sarebbe l'allumina o ceramica superficie sulla quale si depositano il dado e altri elementi.
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Un piano attraverso un dispositivo istituito allo scopo di orientare l'applicazione della forza durante tali tensioni come accelerazione costante. L'asse più ampiamente usato è l'asse Y1, in cui l'applicazione della forza è tale che tenderà a sollevare il morire fuori la superficie di montaggio o i fili fuori lo stampo.
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Testimonianza di test o screening casuale di dispositivi per determinare che il materiale soddisfa tutti i requisiti applicabili.
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Una definizione dettagliata della configurazione elettriche e meccaniche di un dispositivo, assemblaggio, trasformazione e test utilizzato come base da cui partire per tenere traccia delle modifiche successive.
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Dispositivi o processi in cui aree ditrasporto e substrati sono delle polarità differenti (ad esempio i transistor PNP e NPN, utilizzati per circuiti TTL forma). Entrambi i fori e gli elettroni sono trasportati nei dispositivi bipolari. Alcune tecnologie, come BI-FETTM, combinano elementi bipolari e unipolari.
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Collaudo elettrico eseguito allo scopo di determinare le caratteristiche di prestazione del dispositivo tipico e/o limiti parametrici.
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Analisi radiografica della costruzione di un dispositivo. Questa è una tecnica meno utile per i dispositivi con fili di alluminio obbligazionari poiché solo morire allegare e difetti di tenuta possono essere valutate. Per i dispositivi con filo d'oro è uno schermo più prezioso come può rilevare il danno fatto ai fili durante la centrifuga e tali altri test, come pure assieme la maggior parte dei difetti.
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Un limite applicato per l'importo di parametrica deriva che un'unità può visualizzare attraverso uno schermo o una serie di schermi (solitamente applicati per burn-in).
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